당사의 독자적인 이미지 분석 알고리즘을 활용한 광학 현미경 기반 초정밀 선폭 측정 과정을 소개합니다. 

본 영상은 반도체 및 정밀 전자 부품의 미세 패턴 단면을 분석하는 실제 구동 화면입니다.

핵심 기능 및 장점

• 서브 마이크론(um) 단위 정밀 측정: 고배율 광학 이미지 내 미세 패턴의 선폭(Width)을 실시간으로 산출합니다.

• 사용자 친화적 경계면 보정: 마우스 휠 조작을 통해 측정선의 위치를 미세하게 조정하여, 광학적 간섭을 최소화하고 측정 데이터의 신뢰도를 극대화합니다.

• 통합 데이터 도출: 단일 측정으로 선폭(Width), 높이(Height), 단면적(Area) 등 다각도의 기하학적 수치를 즉시 추출합니다.

• 고해상도 분석 대응: PCB 패턴, 반도체 패키징, 정밀 부품의 단면 연마 시편 등 다양한 산업군에 최적화된 측정 성능을 제공합니다.